Аннотация:
Предложены методы синтеза легкотестируемых схем из функциональных элементов в базисе Жегалкина для произвольных булевых функций. В качестве неисправностей предполагаются константные неисправности типа 0 на выходах элементов. Доказано, что любую булеву функцию можно реализовать схемой, допускающей полный проверяющий тест длины 1.
Работа первого автора выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований, проект 08–01–00863, и программы Президента Российской Федерации поддержки ведущих научных школ, проект НШ 4470.2008.1.
Работа второго автора выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований, проект 08–01–00648.
Образец цитирования:
Ю. В. Бородина, П. А. Бородин, “Синтез легкотестируемых схем в базисе Жегалкина при константных неисправностях типа 0 на выходах элементов”, Дискрет. матем., 22:3 (2010), 127–133; Discrete Math. Appl., 20:4 (2010), 441–449
Ю. В. Бородина, “Оценка длин тестов в базисе Жегалкина при константных неисправностях типа «1» на выходах элементов”, Дискрет. матем., 36:2 (2024), 3–10
Julia Vladislavovna Borodina, Proceedings of Academician O.B. Lupanov 14th International Scientific Seminar “Discrete Mathematics and Its Applications”, 2022, 60
Ю. В. Бородина, “Некоторые классы легкотестируемых схем в базисе Жегалкина”, Дискрет. матем., 33:4 (2021), 3–10; Yu. V. Borodina, “Some classes of easily testable circuits in the Zhegalkin basis”, Discrete Math. Appl., 33:1 (2023), 1–6
G. Temerbekova, D. S. Romanov, “The Length of Single-Fault Detection Tests with Respect to Substitution of Inverters for Combinational Elements in Some Bases”, Comput Math Model, 32:3 (2021), 356
G. Temerbekova, D. S. Romanov, “The Length of Single Fault Detection Tests with Respect to Substitution of Gates with Inverters”, Comput Math Model, 32:4 (2021), 505
N. E. Aleksandrova, D. S. Romanov, “Lower Bound of the Length of a Single Fault Diagnostic Test with Respect to Insertions of a Mod-2 Adder”, Comput Math Model, 32:4 (2021), 500
N. E. Aleksandrova, D. S. Romanov, “The Length of a Single Fault Detection Test for Constant-Nonpreserving Element Insertions”, Comput Math Model, 31:4 (2020), 484
К. А. Попков, “Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 26:1 (2019), 89–113; K. A. Popkov, “Short complete fault detection tests for logic networks with fan-in two”, J. Appl. Industr. Math., 13:1 (2019), 118–131
Ю. В. Бородина, “Легкотестируемые схемы в базисе Жегалкина при константных неисправностях типа “1” на выходах элементов”, Дискрет. матем., 31:2 (2019), 14–19; Yu. V. Borodina, “Easily testable circuits in Zhegalkin basis in the case of constant faults of type “1” at gate outputs”, Discrete Math. Appl., 30:5 (2020), 303–306
К. А. Попков, “Полные проверяющие тесты длины два для схем при произвольных константных неисправностях элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 25:2 (2018), 62–81; K. A. Popkov, “Complete fault detection tests of length 2 for logic networks under stuck-at faults of gates”, J. Appl. Industr. Math., 12:2 (2018), 302–312
К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Дискрет. матем., 30:3 (2018), 99–116; K. A. Popkov, “Short single tests for circuits with arbitrary stuck-at faults at outputs of gates”, Discrete Math. Appl., 29:5 (2019), 321–333
К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 033, 23 с.
К. А. Попков, “Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 197, 24 с.
К. А. Попков, “Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе «конъюнкция-отрицание»”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 030, 31 с.
К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Дискрет. матем., 29:2 (2017), 53–69; K. A. Popkov, “Lower bounds for lengths of single tests for Boolean circuits”, Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 23–33
К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 24:3 (2017), 80–103; K. A. Popkov, “On the exact value of the length of the minimal single diagnostic test for a particular class of circuits”, J. Appl. Industr. Math., 11:3 (2017), 431–443
Н. П. Редькин, “К вопросу о длине диагностических тестов для схем”, Матем. заметки, 102:4 (2017), 624–627; N. P. Red'kin, “Length of Diagnostic Tests for Boolean Circuits”, Math. Notes, 102:4 (2017), 580–582
Д. С. Романов, Е. Ю. Романова, “Метод синтеза неизбыточных схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины”, Дискрет. матем., 29:4 (2017), 87–105; D. S. Romanov, E. Yu. Romanova, “A method of synthesis of irredundant circuits admitting single fault detection tests of constant length”, Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 35–48
К. А. Попков, “Полные проверяющие тесты длины два для схем при произвольных константных неисправностях элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 104, 16 с.
К. А. Попков, “Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе “конъюнкция-отрицание””, ПДМ, 2017, № 38, 66–88
Цитирование в формате AMSBIB
Обратная связь: