Математические заметки
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Скоро в журнале
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Лицензионный договор
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Матем. заметки:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Математические заметки, 2017, том 102, выпуск 4, страницы 624–627
DOI: https://doi.org/10.4213/mzm11730 (Mi mzm11730) 		 
Эта публикация цитируется в 9 научных статьях (всего в 9 статьях)

Краткие сообщения

К вопросу о длине диагностических тестов для схем

Н. П. Редькин

Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова
PDF полного текста (246 kB) Список цитирования (9)
Список литературы:
PDF
HTML
DOI: https://doi.org/10.4213/mzm11730
Ключевые слова: булева функция, схема, диагностический тест схемы.
Поступило: 23.06.2017
Англоязычная версия:
Mathematical Notes, 2017, Volume 102, Issue 4, Pages 580–582
DOI: https://doi.org/10.1134/S0001434617090310
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Н. П. Редькин, “К вопросу о длине диагностических тестов для схем”, Матем. заметки, 102:4 (2017), 624–627; Math. Notes, 102:4 (2017), 580–582
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Red17}
\by Н.~П.~Редькин
\paper К вопросу о длине диагностических тестов для схем
\jour Матем. заметки
\yr 2017
\vol 102
\issue 4
\pages 624--627
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/mzm11730}
\crossref{https://doi.org/10.4213/mzm11730}
\mathscinet{http://mathscinet.ams.org/mathscinet-getitem?mr=3706879}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=30512302}
\transl
\jour Math. Notes
\yr 2017
\vol 102
\issue 4
\pages 580--582
\crossref{https://doi.org/10.1134/S0001434617090310}
\isi{https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=Publons&SrcAuth=Publons_CEL&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=000413455100031}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-85032223461}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/mzm11730
  • https://doi.org/10.4213/mzm11730
  • https://www.mathnet.ru/rus/mzm/v102/i4/p624
    • Эта публикация цитируется в следующих 9 статьяx:
    1. К. А. Попков, “О реализации линейных булевых функций самокорректирующимися схемами из ненадежных функциональных элементов”, Матем. заметки, 115:1 (2024), 91–107  mathnet  crossref  mathscinet; K. A. Popkov, “Implementation of Linear Boolean Functions by Self-Correcting Circuits of Unreliable Logic Gates”, Math. Notes, 115:1 (2024), 77–88  crossref
    2. К. А. Попков, “Короткие полные диагностические тесты для схем, реализующих линейные булевы функции”, Матем. заметки, 113:1 (2023), 75–89  mathnet  crossref  mathscinet; K. A. Popkov, “Short Complete Diagnostic Tests for Circuits Implementing Linear Boolean Functions”, Math. Notes, 113:1 (2023), 80–92  crossref
    3. Monther Busbait, Mikhail Moshkov, Albina Moshkova, Vladimir Shevtchenko, Studies in Systems, Decision and Control, 493, Decision Trees for Fault Diagnosis in Circuits and Switching Networks, 2023, 1  crossref
    4. К. А. Попков, “О самокорректирующихся схемах из ненадежных функциональных элементов, имеющих не более двух входов”, Матем. заметки, 111:1 (2022), 145–148  mathnet  crossref  mathscinet; K. A. Popkov, “On Self-Correcting Logic Circuits of Unreliable Gates with at Most Two Inputs”, Math. Notes, 111:1 (2022), 157–160  crossref  isi
    5. К. А. Попков, “Короткие полные диагностические тесты для схем с двумя дополнительными входами в одном базисе”, Дискрет. матем., 34:2 (2022), 67–82  mathnet  crossref; K. A. Popkov, “Short complete diagnostic tests for circuits with two additional inputs in some basis”, Discrete Math. Appl., 33:4 (2023), 219–230  crossref
    6. К. А. Попков, “Короткие полные диагностические тесты для схем с одним дополнительным входом в стандартном базисе”, ПДМ, 2022, № 56, 104–112  mathnet  crossref
    7. К. А. Попков, “Короткие условные полные диагностические тесты для схем при однотипных константных неисправностях элементов”, Дискрет. матем., 34:3 (2022), 63–69  mathnet  crossref; K. A. Popkov, “Short conditional complete diagnostic tests for circuits under one-type constant faults of gates”, Discrete Math. Appl., 33:6 (2023), 381–386  crossref
    8. К. А. Попков, “Короткие полные диагностические тесты для схем из функциональных элементов в одном бесконечном базисе”, Вестн. Моск. ун-та. Сер. 1. Матем., мех., 2022, № 5, 51–54  mathnet  mathscinet  zmath  elib; K. A. Popkov, “Short complete diagnostic tests for logic circuits in one infinite basis”, Moscow University Mathematics Bulletin, 77:5 (2022), 250–253  crossref
    9. K. A. Popkov, “Короткие полные диагностические тесты для схем при однотипных константных неисправностях на выходах элементов”, Материал конференции: “XIV международный научный семинар 'Дискретная математика и ее приложения' имени академика О.Б. Лупанова” (20-25 июня 2022 г., Москва), 2022, 89–92  crossref
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Математические заметки Mathematical Notes
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:295
    PDF полного текста:45
    Список литературы:55
    Первая страница:27
     
      Обратная связь:
    math-net2025_04@mi-ras.ru     		 Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025