Аннотация:
Описываются все булевы функции, которые могут быть реализованы схемами в базисе Жегалкина, допускающими полный проверяющий тест длины 1 при константных неисправностях типа “1” на выходах элементов.
Образец цитирования:
Ю. В. Бородина, “Легкотестируемые схемы в базисе Жегалкина при константных неисправностях типа “1” на выходах элементов”, Дискрет. матем., 31:2 (2019), 14–19; Discrete Math. Appl., 30:5 (2020), 303–306
\RBibitem{Bor19}
\by Ю.~В.~Бородина
\paper Легкотестируемые схемы в базисе Жегалкина при константных неисправностях типа ``1'' на выходах элементов
\jour Дискрет. матем.
\yr 2019
\vol 31
\issue 2
\pages 14--19
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/dm1557}
\crossref{https://doi.org/10.4213/dm1557}
\mathscinet{http://mathscinet.ams.org/mathscinet-getitem?mr=3962497}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=37652125}
\transl
\jour Discrete Math. Appl.
\yr 2020
\vol 30
\issue 5
\pages 303--306
\crossref{https://doi.org/10.1515/dma-2020-0026}
\isi{https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=Publons&SrcAuth=Publons_CEL&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=000582465000002}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-85094891458}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/dm1557
https://doi.org/10.4213/dm1557
https://www.mathnet.ru/rus/dm/v31/i2/p14
Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
К. А. Попков, “О реализации линейных булевых функций самокорректирующимися схемами из ненадежных функциональных элементов”, Матем. заметки, 115:1 (2024), 91–107; K. A. Popkov, “Implementation of Linear Boolean Functions by Self-Correcting Circuits of Unreliable Logic Gates”, Math. Notes, 115:1 (2024), 77–88
Ю. В. Бородина, “Оценка длин тестов в базисе Жегалкина при константных неисправностях типа «1» на выходах элементов”, Дискрет. матем., 36:2 (2024), 3–10
К. А. Попков, “О самокорректирующихся схемах из ненадежных функциональных элементов,
имеющих не более двух входов”, Матем. заметки, 111:1 (2022), 145–148; K. A. Popkov, “On Self-Correcting Logic Circuits of Unreliable Gates with at Most Two Inputs”, Math. Notes, 111:1 (2022), 157–160
Ю. В. Бородина, “Некоторые классы легкотестируемых схем в базисе Жегалкина”, Дискрет. матем., 33:4 (2021), 3–10; Yu. V. Borodina, “Some classes of easily testable circuits in the Zhegalkin basis”, Discrete Math. Appl., 33:1 (2023), 1–6
Цитирование в формате AMSBIB
Обратная связь: