Аннотация:
Получены нетривиальные нижние оценки длин минимальных единичных проверяющих и диагностических тестов для схем из функциональных элементов в широких классах базисов при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.
Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (проект № 14–01–00598) и программы фундаментальных исследований ОМН РАН «Алгебраические и комбинаторные методы математической кибернетики и информационные системы нового поколения» (проект «Задачи оптимального синтеза управляющих систем»).
К. А. Попков, “Письмо в редакцию”, Дискрет. матем., 36:3 (2024), 149–149
П. С. Дергач, Д. Б. Бахрамова, “Об автоматных неисправностях при алфавитном кодировании”, Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 27:4 (2023), 29–39
К. А. Попков, “Короткие единичные проверяющие тесты для схем при произвольных неисправностях функциональных элементов”, ПДМ, 2022, № 55, 59–76
К. А. Попков, “О схемах, допускающих короткие единичные проверяющие тесты при произвольных неисправностях функциональных элементов”, ПДМ, 2021, № 51, 85–100
G. Temerbekova, D. S. Romanov, “The Length of Single Fault Detection Tests with Respect to Substitution of Gates with Inverters”, Comput Math Model, 32:4 (2021), 505
G. Temerbekova, D. S. Romanov, “The Length of Single-Fault Detection Tests with Respect to Substitution of Inverters for Combinational Elements in Some Bases”, Comput Math Model, 32:3 (2021), 356
Popkov K.A., “On Implementation of Boolean Functions By Contact Circuits With a Constant Uniform Width”, Dokl. Math., 102:3 (2020), 502–504
N. E. Aleksandrova, D. S. Romanov, “The Length of a Single Fault Detection Test for Constant-Nonpreserving Element Insertions”, Comput Math Model, 31:4 (2020), 484
К. А. Попков, “Метод построения легко диагностируемых схем из функциональных элементов относительно единичных неисправностей”, ПДМ, 2019, № 46, 38–57
К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Дискрет. матем., 30:3 (2018), 99–116; K. A. Popkov, “Short single tests for circuits with arbitrary stuck-at faults at outputs of gates”, Discrete Math. Appl., 29:5 (2019), 321–333
Д. С. Романов, Е. Ю. Романова, “Метод синтеза неизбыточных схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины”, Дискрет. матем., 29:4 (2017), 87–105; D. S. Romanov, E. Yu. Romanova, “A method of synthesis of irredundant circuits admitting single fault detection tests of constant length”, Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 35–48
Цитирование в формате AMSBIB
Обратная связь: