Аннотация:
Предложен метод синтеза схем из функциональных элементов в произвольном функционально полном базисе, реализующих заданные булевы функции и допускающих единичные диагностические тесты малой длины относительно константных и/или инверсных неисправностей на входах и/или выходах элементов при выполнении определённых начальных условий, связанных с существованием коротких единичных проверяющих тестов для схем в том же базисе при таких же неисправностях. На основании этого метода получены новые верхние оценки длин минимальных единичных диагностических тестов для схем из функциональных элементов в некоторых базисах при некоторых неисправностях элементов.
Работа выполнена при поддержке гранта РНФ, проект № 19-71-30004.
Реферативные базы данных:
Тип публикации:
Статья
УДК:519.718.7
Образец цитирования:
К. А. Попков, “Метод построения легко диагностируемых схем из функциональных элементов относительно единичных неисправностей”, ПДМ, 2019, № 46, 38–57
\RBibitem{Pop19}
\by К.~А.~Попков
\paper Метод построения легко диагностируемых схем из функциональных элементов относительно единичных неисправностей
\jour ПДМ
\yr 2019
\issue 46
\pages 38--57
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pdm683}
\crossref{https://doi.org/10.17223/20710410/46/4}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pdm683
https://www.mathnet.ru/rus/pdm/y2019/i4/p38
Эта публикация цитируется в следующих 5 статьяx:
Ю. В. Бородина, “Оценка длин тестов в базисе Жегалкина при константных неисправностях типа «1» на выходах элементов”, Дискрет. матем., 36:2 (2024), 3–10
К. А. Попков, “О самокорректирующихся схемах из ненадежных функциональных элементов,
имеющих не более двух входов”, Матем. заметки, 111:1 (2022), 145–148; K. A. Popkov, “On Self-Correcting Logic Circuits of Unreliable Gates with at Most Two Inputs”, Math. Notes, 111:1 (2022), 157–160
К. А. Попков, “Короткие единичные проверяющие тесты для схем при произвольных неисправностях функциональных элементов”, ПДМ, 2022, № 55, 59–76
К. А. Попков, “О схемах, допускающих короткие единичные проверяющие тесты при произвольных неисправностях функциональных элементов”, ПДМ, 2021, № 51, 85–100
Ю. В. Бородина, “Некоторые классы легкотестируемых схем в базисе Жегалкина”, Дискрет. матем., 33:4 (2021), 3–10; Yu. V. Borodina, “Some classes of easily testable circuits in the Zhegalkin basis”, Discrete Math. Appl., 33:1 (2023), 1–6
Цитирование в формате AMSBIB
Обратная связь: