Loading [MathJax]/jax/output/CommonHTML/jax.js
Прикладная дискретная математика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ПДМ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Прикладная дискретная математика, 2022, номер 55, страницы 59–76
DOI: https://doi.org/10.17223/20710410/55/4
(Mi pdm760)
 

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Математические основы надежности вычислительных и управляющих систем

Короткие единичные проверяющие тесты для схем при произвольных неисправностях функциональных элементов

К. А. Попков

Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, г. Москва, Россия
Список литературы:
Аннотация: Доказано, что любую неконстантную булеву функцию от n переменных можно реализовать неизбыточной схемой из функциональных элементов в базисе {&,,¬}, допускающей при n3 единичный проверяющий тест длины не более 6n10 относительно произвольных неисправностей элементов.
Ключевые слова: схема из функциональных элементов, булева функция, неисправность, единичный проверяющий тест.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 19-71-30004
Работа выполнена при поддержке гранта РНФ, проект № 19-71-30004.
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 519.718.7
Образец цитирования: К. А. Попков, “Короткие единичные проверяющие тесты для схем при произвольных неисправностях функциональных элементов”, ПДМ, 2022, № 55, 59–76
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Pop22}
\by К.~А.~Попков
\paper Короткие единичные проверяющие тесты для схем при произвольных неисправностях функциональных элементов
\jour ПДМ
\yr 2022
\issue 55
\pages 59--76
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pdm760}
\crossref{https://doi.org/10.17223/20710410/55/4}
\mathscinet{http://mathscinet.ams.org/mathscinet-getitem?mr=4409563}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pdm760
  • https://www.mathnet.ru/rus/pdm/y2022/i1/p59
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    1. К. А. Попков, “О реализации линейных булевых функций самокорректирующимися схемами из ненадежных функциональных элементов”, Матем. заметки, 115:1 (2024), 91–107  mathnet  crossref  mathscinet; K. A. Popkov, “Implementation of Linear Boolean Functions by Self-Correcting Circuits of Unreliable Logic Gates”, Math. Notes, 115:1 (2024), 77–88  crossref
    2. A. N. Mal'tsev, “Shannon Function of the Test Length with Respect to Gate Input Identification”, Comput Math Model, 33:4 (2022), 501  crossref
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Прикладная дискретная математика
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:162
    PDF полного текста:54
    Список литературы:23
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025