Аннотация:
Рассматривается критический ветвящийся процесс Гальтона–Ватсона Z={Zn:n=0,1,…} индекса 1+α, α∈(0,1]. Пусть Sk(j) обозначает сумму числа частиц Zn по всем n, находящимся внутри окна [k,…,k+j), а Mm(j) — максимум Sk(j) по всем k, меняющимся в промежутке [0,m−j]. Мы описываем асимптотическое поведение математического ожидания EMm(j) в случае, когда ширина окна j=jm удовлетворяет условию j/m→η∈[0,1] при m↑∞. При получении указанной асимптотики используются асимптотические свойства хвоста распределения случайной величины M∞(j).
Ключевые слова:
ветвление индекса один плюс альфа, предельная теорема, условный принцип инвариантности, асимптотика хвоста, скользящее окно, максимум общего числа частиц, вероятности малых уклонений.
Поступила в редакцию: 16.01.2006 Исправленный вариант: 02.04.2007
Образец цитирования:
В. А. Ватутин, В. И. Вахтель, К. Фляйшманн, “Критические процессы Гальтона–Ватсона: Максимум общего числа частиц внутри большого окна”, Теория вероятн. и ее примен., 52:3 (2007), 419–445; Theory Probab. Appl., 52:3 (2008), 470–492
\RBibitem{VatWacFle07}
\by В.~А.~Ватутин, В.~И.~Вахтель, К.~Фляйшманн
\paper Критические процессы Гальтона--Ватсона: Максимум общего числа частиц внутри большого окна
\jour Теория вероятн. и ее примен.
\yr 2007
\vol 52
\issue 3
\pages 419--445
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tvp72}
\crossref{https://doi.org/10.4213/tvp72}
\mathscinet{http://mathscinet.ams.org/mathscinet-getitem?mr=2743023}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=10437776}
\transl
\jour Theory Probab. Appl.
\yr 2008
\vol 52
\issue 3
\pages 470--492
\crossref{https://doi.org/10.1137/S0040585X97983110}
\isi{https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=Publons&SrcAuth=Publons_CEL&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=000259971000006}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-55449116280}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/tvp72
https://doi.org/10.4213/tvp72
https://www.mathnet.ru/rus/tvp/v52/i3/p419
Эта публикация цитируется в следующих 11 статьяx:
В. И. Афанасьев, “О локальном времени остановленного случайного блуждания, достигающего высокого уровня”, Ветвящиеся процессы и смежные вопросы, Сборник статей. К 75-летию со дня рождения Андрея Михайловича Зубкова и 70-летию со дня рождения Владимира Алексеевича Ватутина, Труды МИАН, 316, МИАН, М., 2022, 11–31; V. I. Afanasyev, “On the Local Time of a Stopped Random Walk Attaining a High Level”, Proc. Steklov Inst. Math., 316 (2022), 5–25
Kortchemski I., “Sub-Exponential Tail Bounds For Conditioned Stable Bienaym,-Galton-Watson Trees”, Probab. Theory Relat. Field, 168:1-2 (2017), 1–40
С. В. Нагаев, “Вероятностные неравенства для процессов Гальтона–Ватсона”, Теория вероятн. и ее примен., 59:4 (2014), 693–726; S. V. Nagaev, “Probability inequalities for Galton–Watson processes”, Theory Probab. Appl., 59:4 (2015), 611–640
Lin Sh., “The Harmonic Measure of Balls in Critical Galton-Watson Trees With Infinite Variance Offspring Distribution”, Electron. J. Probab., 19 (2014), 98, 1–35
Bertoin J., “On Largest Offspring in a Critical Branching Process with Finite Variance”, J. Appl. Probab., 50:3 (2013), 791–800
Jean Bertoin, “On Largest Offspring in a Critical Branching Process with Finite Variance”, J. Appl. Probab., 50:03 (2013), 791
Pakes A.G., “Critical Markov branching process limit theorems allowing infinite variance”, Adv. in Appl. Probab., 42:2 (2010), 460–488
Anthony G. Pakes, “Critical markov branching process limit theorems allowing infinite variance”, Adv. Appl. Probab., 42:02 (2010), 460
David Croydon, Takashi Kumagai, “Random walks on Galton-Watson trees with infinite variance offspring distribution conditioned to survive”, Electron. J. Probab., 13:none (2008)
В. И. Вахтель, “Предельные теоремы для вероятностей больших уклонений
критического процесса Гальтона–Ватсона
со степенными хвостами”, Теория вероятн. и ее примен., 52:4 (2007), 644–659; V. I. Vakhtel', “Limit Theorems for Probabilities of Large Deviations of a Critical Galton–Watson Process Having Power Tails”, Theory Probab. Appl., 52:4 (2008), 674–688