Аннотация:
Внесение идей топологии и топологических переходов в физику твёрдого тела привело к теоретическому предсказанию и последующему экспериментальному открытию топологических изоляторов — нового класса диэлектрических трёхмерных или квазидвумерных кристаллических систем, имеющих устойчивые проводящие поверхностные состояния. Представлен краткий обзор электронных свойств топологических изоляторов. Более подробно описана структура краевых и объёмных электронных состояний в двумерных и трёхмерных топологических изоляторах на основе соединения HgTe. Представлены результаты теоретического и экспериментального исследования взаимодействия электромагнитного поля с топологическими изоляторами, краевых и поверхностных фотогальванических эффектов.
Образец цитирования:
С. А. Тарасенко, “Электронные свойства топологических изоляторов. Структура краевых состояний и фотогальванические эффекты”, УФН, 188:10 (2018), 1129–1134; Phys. Usp., 61:10 (2018), 1026–1030