Аннотация:
Впервые наблюдалось воздействие магнитного поля на процессы релаксации дефектной структуры в сегнетоэлектрическом (немагнитном) кристалле триглицинсульфата (TGS). С помощью метода атомно-силовой микроскопии показано, что результатом воздействия постоянного слабого магнитного поля (2 Тл, 20 мин) является существенное изменение распределения по размерам дефектных нанокластеров, характерных для TGS. Известные из литературы и наблюдаемые в данной работе макроскопические эффекты последействия магнитного поля в TGS (медленная релаксация диэлектрической восприимчивости, симметризация петель диэлектрического P-E гистерезиса, и т.д.) могут быть объяснены перераспределением центров пиннинга доменных стенок в результате магнитостимулированной реконфигурации дефектной структуры.
Работа частично поддержана Президиумом РАН (Программа # 1) и выполнена с использованием оборудования ЦКП Института кристаллографии им. А.В.Шубникова ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН при поддержке Минобрнауки
России.
Образец цитирования:
Р. В. Гайнутдинов, Е. С. Иванова, Е. А. Петржик, А. К. Лашкова, Т. Р. Волк, “Эффекты магнитной памяти в сегнетоэлектрических кристаллах триглицинсульфата”, Письма в ЖЭТФ, 106:2 (2017), 84–89; JETP Letters, 106:2 (2017), 97–102
E. S. Ivanova, E. A. Petrzhik, A. P. Eremeev, R. V. Gainutdinov, A. K. Lashkova, A. G. Ivanova, T. R. Volk, Crystallogr. Rep., 68:5 (2023), 716
Valentin Akkuratov, Anton Kulikov, Yuri Pisarevsky, Alexander Blagov, Mikhail Kovalchuk, J Appl Crystallogr, 56:1 (2023), 247
Sabarish V.C.B., Durairajan A., Graca M.P.F., Valente M.A., Gajendiran J., Rajasekhar B.N., Bhatt R., Bhaumik I., Karnal A.K., Sinha A.K., Singh M.N., Gokulraj S., Kumar G.R., J. Mol. Struct., 1248 (2022), 131450
M. O. Sharikova, A. A. Bykov, Y. A. Eliovich, V. I. Akkuratov, Yu. V. Pisarevsky, 2022 Wave Electronics and its Application in Information and Telecommunication Systems (WECONF), 2022, 1
Е. А. Петржик, В. И. Альшиц, Письма в ЖЭТФ, 113:10 (2021), 678–682; E. A. Petrzhik, V. I. Alshits, JETP Letters, 113:10 (2021), 646–650
R. A. Redko, G. V. Milenin, V. V. Shvalagin, S. M. Redko, O. S. Kondratenko, V. V. Shynkarenko, V. B. Neymash, V. Y. Povarchuk, Mater. Chem. Phys., 267 (2021), 124669
O. M. Golitsyna, S. N. Drozhdin, Ferroelectrics, 567:1, SI (2020), 244–263
Е. В. Даринская, М. В. Колдаева, В. И. Альшиц, А. Э. Волошин, И. М. Притула, Письма в ЖЭТФ, 110:4 (2019), 255–259; E. V. Darinskaya, M. V. Koldaeva, V. I. Alshits, A. E. Voloshin, I. M. Pritula, JETP Letters, 110:4 (2019), 279–283
И. С. Волчков, В. М. Каневский, М. Д. Павлюк, Письма в ЖЭТФ, 107:4 (2018), 276–279; I. S. Volchkov, V. M. Kanevskii, M. D. Pavlyuk, JETP Letters, 107:4 (2018), 269–272
Е. Д. Якушкин, Письма в ЖЭТФ, 106:8 (2017), 523–527; E. D. Yakushkin, JETP Letters, 106:8 (2017), 544–548