Аннотация:
Предложен метод синтеза схем из функциональных элементов в произвольном функционально полном базисе, реализующих заданные булевы функции и допускающих единичные диагностические тесты малой длины относительно константных и/или инверсных неисправностей на входах и/или выходах элементов при выполнении определённых начальных условий, связанных с существованием коротких единичных проверяющих тестов для схем в том же базисе при таких же неисправностях. На основании этого метода получены новые верхние оценки длин минимальных единичных диагностических тестов для схем из функциональных элементов в некоторых базисах при некоторых неисправностях элементов.
Работа выполнена при поддержке гранта РНФ, проект 19-71-30004.
Реферативные базы данных:
Тип публикации:
Препринт
Образец цитирования:
К. А. Попков, “Метод построения легко диагностируемых схем из функциональных элементов относительно единичных неисправностей”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2019, 081, 29 с.
\RBibitem{Pop19}
\by К.~А.~Попков
\paper Метод построения легко диагностируемых схем из функциональных элементов относительно единичных неисправностей
\jour Препринты ИПМ им.~М.~В.~Келдыша
\yr 2019
\papernumber 081
\totalpages 29
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/ipmp2719}
\crossref{https://doi.org/10.20948/prepr-2019-81}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=39217285}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ipmp2719
https://www.mathnet.ru/rus/ipmp/y2019/p81
Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
И. Г. Любич, Д. С. Романов, “О единичных диагностических тестах относительно инверсных неисправностей элементов в схемах над произвольными базисами”, Дискрет. матем., 33:1 (2021), 20–30; I. G. Lyubich, D. S. Romanov, “Single diagnostic tests for inversion faults of gates in circuits over arbitrary bases”, Discrete Math. Appl., 32:1 (2022), 1–9
Цитирование в формате AMSBIB
Обратная связь: