Аннотация:
Доказано, что любую булеву функцию можно реализовать неизбыточной схемой из функциональных элементов над произвольным конечным полным базисом, допускающей единичный диагностический тест длины не более 4 относительно инверсных неисправностей на выходах элементов.
Ключевые слова:
схема из функциональных элементов, единичный диагностический тест, инверсная неисправность на выходе элемента, функция Шеннона, легкотестируемая схема.
Образец цитирования:
И. Г. Любич, Д. С. Романов, “О единичных диагностических тестах относительно инверсных неисправностей элементов в схемах над произвольными базисами”, Дискрет. матем., 33:1 (2021), 20–30; Discrete Math. Appl., 32:1 (2022), 1–9
\RBibitem{LyuRom21}
\by И.~Г.~Любич, Д.~С.~Романов
\paper О единичных диагностических тестах относительно инверсных неисправностей элементов в схемах над произвольными базисами
\jour Дискрет. матем.
\yr 2021
\vol 33
\issue 1
\pages 20--30
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/dm1629}
\crossref{https://doi.org/10.4213/dm1629}
\mathscinet{http://mathscinet.ams.org/mathscinet-getitem?mr=3900054}
\transl
\jour Discrete Math. Appl.
\yr 2022
\vol 32
\issue 1
\pages 1--9
\crossref{https://doi.org/10.1515/dma-2022-0001}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/dm1629
https://doi.org/10.4213/dm1629
https://www.mathnet.ru/rus/dm/v33/i1/p20
Эта публикация цитируется в следующих 5 статьяx:
К. А. Попков, “О реализации линейных булевых функций самокорректирующимися схемами из ненадежных функциональных элементов”, Матем. заметки, 115:1 (2024), 91–107; K. A. Popkov, “Implementation of Linear Boolean Functions by Self-Correcting Circuits of Unreliable Logic Gates”, Math. Notes, 115:1 (2024), 77–88
S. A. Lozhkin, D. S. Romanov, “Results Obtained at the Department of Mathematical Cybernetics, Faculty of Computational Mathematics and Cybernetics, Moscow State University, in the Field of the Theory of Synthesis and Control of Discrete Control Systems”, MoscowUniv.Comput.Math.Cybern., 48:4 (2024), 361
A. N. Mal'tsev, “Shannon function of the test length with respect to gate input identification”, Comput. Math. Model., 33:4 (2022), 501–509
И. Г. Любич, “Улучшение верхней оценки функции Шеннона длины единичных диагностических тестов относительно инверсных неисправностей”, Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 25:4 (2021), 157–160
И. Г. Любич, Д. С. Романов, “О k-диагностических тестах относительно инверсных неисправностей элементов”, Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 25:4 (2021), 161–165
Цитирование в формате AMSBIB
Обратная связь: