Аннотация:
В работе изложены основные теоретические положения, лежащие в основе новых численных методов вычисления собственных чисел и
собственных функций дискретных полуограниченных снизу операторов. Приведены алгоритмы нахождения спектральных характеристик методами регуляризованных следов и примеры вычисления их в некоторых спектральных задачах Штурма—Лиувилля.
Ключевые слова:
самосопряженный оператор, метод регуляризованных следов, численные методы, спектр.
Образец цитирования:
С. И. Кадченко, С. Н. Какушкин, “Вычисление спектральных характеристик возмущенных самосопряженных операторов методами регуляризованных следов”, Дифференциальные уравнения. Спектральная теория, Итоги науки и техн. Соврем. мат. и ее прил. Темат. обз., 141, ВИНИТИ РАН, М., 2017, 61–78; Journal of Mathematical Sciences, 241:5 (2019), 570–588
\RBibitem{KadKak17}
\by С.~И.~Кадченко, С.~Н.~Какушкин
\paper Вычисление спектральных характеристик возмущенных самосопряженных операторов методами регуляризованных следов
\inbook Дифференциальные уравнения. Спектральная теория
\serial Итоги науки и техн. Соврем. мат. и ее прил. Темат. обз.
\yr 2017
\vol 141
\pages 61--78
\publ ВИНИТИ РАН
\publaddr М.
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/into243}
\mathscinet{http://mathscinet.ams.org/mathscinet-getitem?mr=3801338}
\zmath{https://zbmath.org/?q=an:07123833}
\transl
\jour Journal of Mathematical Sciences
\yr 2019
\vol 241
\issue 5
\pages 570--588
\crossref{https://doi.org/10.1007/s10958-019-04446-z}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/into243
https://www.mathnet.ru/rus/into/v141/p61
Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
С. И. Кадченко, А. В. Пуршева, Л. С. Рязанова, “Решение обратных спектральных задач для дискретных полуограниченных операторов, заданных на геометрических графах”, Вестн. ЮУрГУ. Сер. Матем. моделирование и программирование, 13:4 (2020), 19–32 [S. I. Kadchenko, A. V. Pursheva, L. S. Ryazanova, “Solution of inverse spectral problems for discrete semi-bounded operators given on geometric graphs”, Vestnik YuUrGU. Ser. Mat. Model. Progr., 13:4 (2020), 19–32]