Успехи физических наук
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Скоро в журнале
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


УФН:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Успехи физических наук, 1965, том 85, номер 3, страницы 533–542
DOI: https://doi.org/10.3367/UFNr.0085.196503e.0533 (Mi ufn11794) 		 
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

НОВЫЕ ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ

Погрешность и надежность простейших экспериментов

М. И. Корнфельд
PDF полного текста (485 kB) Список цитирования (4)
DOI: https://doi.org/10.3367/UFNr.0085.196503e.0533
Англоязычная версия:
Physics–Uspekhi, 1965, Volume 8, Issue 2, Pages 299–304
DOI: https://doi.org/10.1070/PU1965v008n02ABEH003045
Тип публикации: Статья
УДК: 519.281
PACS: 06.20.Dk, 06.30.-k
Образец цитирования: М. И. Корнфельд, “Погрешность и надежность простейших экспериментов”, УФН, 85:3 (1965), 533–542; Phys. Usp., 8:2 (1965), 299–304
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Kor65}
\by М.~И.~Корнфельд
\paper Погрешность и надежность простейших экспериментов
\jour УФН
\yr 1965
\vol 85
\issue 3
\pages 533--542
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/ufn11794}
\crossref{https://doi.org/10.3367/UFNr.0085.196503e.0533}
\transl
\jour Phys. Usp.
\yr 1965
\vol 8
\issue 2
\pages 299--304
\crossref{https://doi.org/10.1070/PU1965v008n02ABEH003045}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/ufn11794
  • https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v85/i3/p533
    • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    1. A. I. Petrov, V. A. Rozhkov, “Electrical breakdown of dysprosium oxide films”, Russ Phys J, 38:8 (1995), 848  crossref
    2. N. P. Pervukhin, M. S. Metsik, “Sensitivity of the dielectric strength of a thin-film capacitor to the substrate temperature and deposition rate during the deposition ofthe silicon monoxide dielectric film”, Soviet Physics Journal, 12:11 (1969), 1503  crossref
    3. M. S. Metsik, Yu. A. Kitaev, “Effect of surface state on shear stress anisotropy for muscovites”, Soviet Physics Journal, 11:4 (1968), 100  crossref
    4. Yu. I. Naberukhin, S. I. Shuiskii, “Structure of water from the Raman spectra of solutions of nonelectrolytes”, J Struct Chem, 8:4 (1967), 544  crossref
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Успехи физических наук Physics-Uspekhi
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:80
    PDF полного текста:33
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025