Аннотация:
Оценивается вероятность повреждения данных в самосинхронных (СС) схемах, изготовленных по КМДП-технологии с проектными нормами 65 нм и ниже, из-за кратковременных логических сбоев (ЛС) в комбинационной части ступени СС-конвейера, вызванных внешними и внутренними факторами. Выявлены ситуации, способные привести к порче данных в конвейере из-за ЛС. Определен уровень естественной защищенности СС-конвейера от ЛС в его комбинационной части благодаря свойствам СС-схем (84,4% в наихудшем случае). Предложенные приемы топологического синтеза повышают сбоеустойчивость СС-конвейера до 85,6% от всех ЛС. Индикация состояния парафазного сигнала, инверсного по отношению к его спейсеру, как спейсера обеспечивает иммунность СС-конвейера к 98,6% одиночных ЛС за счет увеличения его аппаратных затрат всего на 1%.
Исследование выполнено при поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации,
проект № 075-15-2020-799.
Поступила в редакцию: 25.03.2020
Тип публикации:
Статья
Образец цитирования:
Ю. А. Степченков, Ю. Г. Дьяченко, Ю. В. Рождественский, Н. В. Морозов, Д. Ю. Степченков, Д. Ю. Дьяченко, “Устойчивость самосинхронного конвейера к логическим сбоям в комбинационной части”, Системы и средства информ., 30:3 (2020), 49–55
\RBibitem{SteDiaRoz20}
\by Ю.~А.~Степченков, Ю.~Г.~Дьяченко, Ю.~В.~Рождественский, Н.~В.~Морозов, Д.~Ю.~Степченков, Д.~Ю.~Дьяченко
\paper Устойчивость самосинхронного конвейера к~логическим сбоям в~комбинационной части
\jour Системы и средства информ.
\yr 2020
\vol 30
\issue 3
\pages 49--55
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/ssi718}
\crossref{https://doi.org/10.14357/08696527200305}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ssi718
https://www.mathnet.ru/rus/ssi/v30/i3/p49
Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
A. A. Zatsarinny, Yu. A. Stepchenkov, Yu. G. Diachenko, Yu. V. Rogdestvenski, “Failure-Tolerant Synchronous and Self-Timed Circuits Comparison”, Russ Microelectron, 51:8 (2022), 630
Цитирование в формате AMSBIB
Обратная связь: