Ученые записки Казанского университета. Серия Физико-математические науки
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Учен. зап. Казан. ун-та. Сер. Физ.-матем. науки:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Ученые записки Казанского университета. Серия Физико-математические науки, 2020, том 162, книга 3, страницы 359–366
DOI: https://doi.org/10.26907/2541-7746.2020.3.359-366
(Mi uzku1567)
 

Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

О единичных проверяющих тестах относительно замен элементов на инверторы

Г. Г. Темербекова, Д. С. Романов

Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, г. Москва, 119991, Россия
Список литературы:
Аннотация: В статье рассмотрены вопросы проверяющего тестирования булевых функций, реализуемых схемами из функциональных элементов (СФЭ), на которые действует источник одиночных неисправностей, вызывающий замены функциональных элементов на инверторы. Актуальность исследования определена тем, что замены функциональных элементов на инверторы представляют собой тип неисправности, встречающийся при разработке и производстве СБИС. Исследование проведено с целью доказать возможность построения легкотестируемых схем относительно замен элементов на инверторы. Для достижения поставленной цели разработаны специальные методы синтеза легкотестируемых схем. На основе результатов исследования сделаны следующие выводы. Для произвольной булевой функции, реализуемой с помощью СФЭ над базисом Жегалкина, найдется схема, допускающая единичный проверяющий тест из одного набора. Для произвольной булевой функции, реализуемой с помощью СФЭ над стандартным базисом, найдется схема, допускающая единичный проверяющий тест из двух наборов.
Ключевые слова: схема из функциональных элементов, проверяющий тест, функция Шеннона, замены элементов.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 18-01-00800_а
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации 5.4.19
Работа выполнена при финансовой поддержке Московского центра фундаментальной и прикладной математики (проект «Оценки сложностных характеристик булевых функций и графов»), РФФИ (проект № 18-01-00800-а) и госбюджетной темы НИР № 5.4.19 факультета ВМК МГУ.
Поступила в редакцию: 20.07.2020
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 519.718.7
Образец цитирования: Г. Г. Темербекова, Д. С. Романов, “О единичных проверяющих тестах относительно замен элементов на инверторы”, Учен. зап. Казан. ун-та. Сер. Физ.-матем. науки, 162, № 3, Изд-во Казанского ун-та, Казань, 2020, 359–366
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{TemRom20}
\by Г.~Г.~Темербекова, Д.~С.~Романов
\paper О единичных проверяющих тестах относительно замен элементов на~инверторы
\serial Учен. зап. Казан. ун-та. Сер. Физ.-матем. науки
\yr 2020
\vol 162
\issue 3
\pages 359--366
\publ Изд-во Казанского ун-та
\publaddr Казань
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/uzku1567}
\crossref{https://doi.org/10.26907/2541-7746.2020.3.359-366}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/uzku1567
  • https://www.mathnet.ru/rus/uzku/v162/i3/p359
  • Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
    1. К. А. Попков, “О реализации линейных булевых функций самокорректирующимися схемами из ненадежных функциональных элементов”, Матем. заметки, 115:1 (2024), 91–107  mathnet  crossref  mathscinet; K. A. Popkov, “Implementation of Linear Boolean Functions by Self-Correcting Circuits of Unreliable Logic Gates”, Math. Notes, 115:1 (2024), 77–88  crossref
    2. S. A. Lozhkin, D. S. Romanov, “Results Obtained at the Department of Mathematical Cybernetics, Faculty of Computational Mathematics and Cybernetics, Moscow State University, in the Field of the Theory of Synthesis and Control of Discrete Control Systems”, MoscowUniv.Comput.Math.Cybern., 48:4 (2024), 361  crossref
    3. К. А. Попков, “О самокорректирующихся схемах из ненадежных функциональных элементов, имеющих не более двух входов”, Матем. заметки, 111:1 (2022), 145–148  mathnet  crossref  mathscinet; K. A. Popkov, “On Self-Correcting Logic Circuits of Unreliable Gates with at Most Two Inputs”, Math. Notes, 111:1 (2022), 157–160  crossref  isi
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Ученые записки Казанского университета. Серия Физико-математические науки
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:123
    PDF полного текста:43
    Список литературы:23
     
      Обратная связь:
    math-net2025_04@mi-ras.ru
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025