Аннотация:
Рассмотрены новые варианты спектроскопических методов с использованием сканирующего туннельного микроскопа, которые позволяют измерять колебательные спектры единичных поверхностных комплексов, определять неравновесные распределения таких комплексов по колебательным уровням и изучать кинетику колебательных переходов, определять параметры релаксации, детектировать одиночные поверхностные электронные спины и изучать динамику быстрой поверхностной миграции частиц. Обсуждены физические основы этих методов и их применение в химических исследованиях. Библиография – 80 ссылок.
Образец цитирования:
Ф. И. Далидчик, С. А. Ковалевский, Б. Р. Шуб, “Сканирующая туннельная колебательная спектроскопия единичных поверхностных комплексов и детектирование одиночных электронных спинов”, Усп. хим., 70:8 (2001), 715–729; Russian Chem. Reviews, 70:8 (2001), 627–639
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/rcr763
https://www.mathnet.ru/rus/rcr/v70/i8/p715
Эта публикация цитируется в следующих 7 статьяx:
N.A. Davidenko, I.I. Davidenko, V.A. Pavlov, N.G. Chuprina, E.V. Mokrinskaya, Handbook of Nanomaterials for Manufacturing Applications, 2020, 345
Nushaba Gadzhieva, Infrared Spectroscopy - Principles, Advances, and Applications, 2019