Квантовая электроника, 2015, том 45, номер 6, страницы 533–539(Mi qe16185)
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
Лазерная плазма
Альфа-спектрометрия и фрактальный анализ микроизображений поверхности для характеризации пористых материалов, применяемых при изготовлении мишеней для экспериментов с лазерной плазмой
Аннотация:
Приведены результаты применения метода альфа-спектрометрии для определения характеристик пористых сред, используемых в мишенях для экспериментов с лазерной плазмой. Показано, что по энергетическому спектру альфа-частиц после прохождения их через пористые образцы можно найти распределение траекторий по их длине в остове пен. Описана процедура получения такого распределения, исключающая его уширение вследствие статистического характера взаимодействия альфа-частиц с атомной структурой (страгглинг) и аппаратные эффекты. Проведён фрактальный анализ микроизображений поверхности тех же пористых образцов, которые изучались методом альфа- спектрометрии. Получены фрактальная размерность и распределение количества зёрен остова по их размерам. По этому распределению построено распределение суммарной толщины остова вдоль выбранного направления. Оно примерно совпадает с крылом распределения траекторий альфа-частиц по длине пути, соответствующим бóльшим длинам пути. Сделан вывод о том, что совместное использование метода альфа-спектрометрии и фрактального анализа изображений даст возможность судить о распределении зёрен остова (или пор) по размеру. Полученные результаты можно использовать как исходные данные при теоретическом рассмотрении распространения лазерного и рентгеновского излучений в конкретных пористых образцах.
Ключевые слова:
мишени для исследования лазерной плазмы, пористые материалы, альфа-спектрометрия, фрактальный анализ поверхности.
Поступила в редакцию: 14.07.2014 Исправленный вариант: 05.09.2014
Образец цитирования:
А. А. Аушев, С. П. Баринов, М. Г. Васин, Ю. М. Дроздов, Ю. В. Игнатьев, В. М. Изгородин, Д. К. Ковшов, А. Е. Лахтиков, Д. Д. Луковкина, В. В. Маркелов, А. П. Моровов, В. В. Шишлов, “Альфа-спектрометрия и фрактальный анализ микроизображений поверхности для характеризации пористых материалов, применяемых при изготовлении мишеней для экспериментов с лазерной плазмой”, Квантовая электроника, 45:6 (2015), 533–539 [Quantum Electron., 45:6 (2015), 533–539]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe16185
https://www.mathnet.ru/rus/qe/v45/i6/p533
Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
Omar S. Al-Kadi, Antonio Di Ieva, Advances in Neurobiology, 36, The Fractal Geometry of the Brain, 2024, 501
B. Zhang, Ch. Zhao, D. Xu, B. Wen, Measurement, 146 (2019), 827–837