Аннотация:
Методом высокочастотного катодного распыления с применением технологии прерывистого напыления изготовлены эпитаксиальные тонкие пленки Sr0.5Ba0.5Nb2O6/MgO с различной толщиной слоев, но с одинаковой общей толщиной. Установлено, что уменьшение толщины слоя приводит к увеличению деформации элементарной ячейки, которая сохраняется, если толщина последующих слоев не превышает критическую.
Образец цитирования:
Д. В. Стрюков, А. В. Павленко, “Деформация элементарной ячейки при прерывистом напылении пленок ниобата бария-стронция”, Письма в ЖТФ, 45:23 (2019), 23–25; Tech. Phys. Lett., 45:12 (2019), 1191–1193
Kirill Brekhov, Vladislav Bilyk, Andrey Ovchinnikov, Oleg Chefonov, Vladimir Mukhortov, Elena Mishina, “Resonant Excitation of the Ferroelectric Soft Mode by a Narrow-Band THz Pulse”, Nanomaterials, 13:13 (2023), 1961
D. V. Stryukov, A. A. Mamrashev, V. D. Antsygin, K. A. Okotrub, D. E. Utkin, O. N. Shevchenko, A. V. Pavlenko, “Heteroepitaxial Barium Strontium Niobate Films: Structure, Lattice Dynamics, and Dielectric Properties in the Range 0.1–2.5 THz”, Inorg Mater, 58:1 (2022), 56
D. V. Stryukov, S. P. Zinchenko, A. V. Nazarenko, A. V. Pavlenko, “Influence of the sputtering conditions on the microstructure and lattice constants of Sr0.5Ba0.5Nb2O6 heteroepitaxial thin films”, Ferroelectrics, 576:1 (2021), 129
А. В. Павленко, Д. В. Стрюков, Л. И. Ивлева, А. П. Ковтун, К. М. Жидель, П. А. Лыков, “Структурные характеристики выращенных методом RF-катодного напыления тонких пленок Sr$_{0.61}$Ba$_{0.39}$Nb$_{2}$O$_{6}$/ MgO(001)”, Физика твердого тела, 63:2 (2021), 250–254; A. V. Pavlenko, D. V. Stryukov, L. I. Ivleva, A. P. Kovtun, K. M. Zhidel, P. A. Lykov, “Structural characteristics of Sr$_{0.61}$Ba$_{0.39}$Nb$_{2}$O$_{6}$/MgO(001) thin films grown by RF-cathode sputtering”, Phys. Solid State, 63:2 (2021), 286–290
Цитирование в формате AMSBIB
Обратная связь: