Аннотация:
Исследован эффект Ааронова-Бома на многостенных углеродных нанотрубках в условиях степенного роста сопротивления с понижением температуры, предшествующих сильной локализации носителей. Обнаружен периодический вклад в продольное магнитосопротивление с периодом 18 Тл, соответствующим кванту магнитного потока hc/e на сечение нанотрубки. Полученный результат указывает на возможность баллистического движения носителей по периметру образца в условиях, близких к сильной локализации носителей в продольном направлении.
Образец цитирования:
Ю. И. Латышев, А. П. Орлов, А. Ю. Латышев, Т. Л. Вейд, М. Конциковский, П. Монсо, “Эффект Ааронова-Бома на многостенных углеродных нанотрубках в режиме, близком к сильной локализации носителей”, Письма в ЖЭТФ, 90:9 (2009), 672–675; JETP Letters, 90:9 (2009), 608–611
\RBibitem{LatOrlLat09}
\by Ю.~И.~Латышев, А.~П.~Орлов, А.~Ю.~Латышев, Т.~Л.~Вейд, М.~Конциковский, П.~Монсо
\paper Эффект Ааронова-Бома на многостенных углеродных нанотрубках в режиме, близком к сильной локализации носителей
\jour Письма в ЖЭТФ
\yr 2009
\vol 90
\issue 9
\pages 672--675
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jetpl577}
\transl
\jour JETP Letters
\yr 2009
\vol 90
\issue 9
\pages 608--611
\crossref{https://doi.org/10.1134/S0021364009210048}
\isi{https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=Publons&SrcAuth=Publons_CEL&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=000273555900004}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-73649089320}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl577
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v90/i9/p672
Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
Orlov A.P. Smolovich A.M. Barinov N.A. Frolov A.V. Lega P.V. Klinov D.V. Koledov V.V., 2018 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-Nano) - Conference Proceedings, International Conference on Manipulation Manufacturing and Measurement on the Nanoscale, ed. Yu M. Weng Z., IEEE, 2018, 118–121
Andrey P. Orlov, Anatoly M. Smolovich, Nikolay A. Barinov, Aleksei V. Frolov, Peter V. Lega Kotelnikov, Dmitry V. Klinov, Victor V. Koledov, 2018 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO), 2018, 118