Аннотация:
Сформулированы достаточные условия локальной бесповторности минимальных π-схем, реализующих линейные булевы функции. Выполнение этих условий приводит к описанию классов минимальных π-схем, реализующих линейные булевы функции, существенно зависящие от n переменных. Ил. 2, библиогр. 12.
Ключевые слова:
сложность формул, π-схема, нижняя оценка сложности.
Статья поступила: 16.03.2015 Переработанный вариант: 23.07.2015
Образец цитирования:
К. Л. Рычков, “Достаточные условия локальной бесповторности минимальных π-схем, реализующих линейные булевы функции”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 22:5 (2015), 71–85; J. Appl. Industr. Math., 9:4 (2015), 580–587
\RBibitem{Ryc15}
\by К.~Л.~Рычков
\paper Достаточные условия локальной бесповторности минимальных $\pi$-схем, реализующих линейные булевы функции
\jour Дискретн. анализ и исслед. опер.
\yr 2015
\vol 22
\issue 5
\pages 71--85
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/da829}
\crossref{https://doi.org/10.17377/daio.2015.22.481}
\mathscinet{http://mathscinet.ams.org/mathscinet-getitem?mr=3467240}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=24323030}
\transl
\jour J. Appl. Industr. Math.
\yr 2015
\vol 9
\issue 4
\pages 580--587
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1990478915040146}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/da829
https://www.mathnet.ru/rus/da/v22/i5/p71
Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
К. Л. Рычков, “Представления нормализованных формул”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 29:4 (2022), 77–103
K. L. Rychkov, “Representations of Normalized Formulas”, J. Appl. Ind. Math., 16:4 (2022), 760
К. Л. Рычков, “О совершенности минимальных правильных разбиений множества рёбер n-мерного куба”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 26:4 (2019), 74–107
К. Л. Рычков, “О сложности реализации линейной булевой функции в классе π-схем”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 25:3 (2018), 36–94; K. L. Rychkov, “Complexity of the realization of a linear Boolean function in the class of π-schemes”, J. Appl. Industr. Math., 12:3 (2018), 540–576
Цитирование в формате AMSBIB
Обратная связь: