Аннотация:
Предложен метод организации самотестирования многопроцессорной системы при определенных ограничениях, в частности использованы специальные диагностические графы и число отказов не превышает определенной величины T. Показано, что тестовый эксперимент, при котором каждый из n процессоров тестируется двумя другими, позволяет определить состояние всех за исключением, возможно, двух процессоров при T=4 и одного – при T=3. Общее число проверок не превышает величины 2n+2.
Ключевые слова:
многопроцессорные системы, диагностический граф, взаимное тестирование процессоров.
Статья представлена к публикации членом редколлегии:П. П. Пархоменко
Образец цитирования:
В. А. Романкевич, “Самотестирование многопроцессорных систем с регулярными диагностическими связями”, Автомат. и телемех., 2017, № 2, 115–127; Autom. Remote Control, 78:2 (2017), 289–299
Alexei M. Romankevich, Kostiantyn V. Morozov, Vitaliy A. Romankevich, Lecture Notes on Data Engineering and Communications Technologies, 134, Advances in Computer Science for Engineering and Education, 2022, 363
А. М. Романкевич, К. В. Морозов, В. А. Романкевич, “Формальный метод определения состояния процессоров многопроцессорной системы при ее тестировании”, Автомат. и телемех., 2021, № 3, 112–122; A. M. Romankevich, K. V. Morozov, V. A. Romankevich, “A formal method for determining the state of processors in a multiprocessor system under testing”, Autom. Remote Control, 82:3 (2021), 460–467
Oleksandr Martynyuk, Oleksandr Drozd, Anatoliy Sachenko, Hanna Stepova, Bui Van Thuong, Dmitry Martynyuk, 2021 IEEE 4th International Conference on Advanced Information and Communication Technologies (AICT), 2021, 60
Oleksandr Drozd, Andrzej Rucinski, Kostiantyn Zashcholkin, Oleksandr Martynyuk, Julia Drozd, 2021 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS), 2021, 1
Oleksandr Drozd, Kostiantyn Zashcholkin, Oleksandr Martynyuk, Julia Drozd, Yulian Sulima, 2020 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS), 2020, 1
Oleksandr Drozd, Anatoliy Sachenko, Svetlana Antoshchuk, Julia Drozd, Mykola Kuznietsov, 2019 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS), 2019, 1