Loading [MathJax]/jax/output/SVG/config.js
Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 2023, том 49, выпуск 6, страницы 28–31
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2023.06.54813.19410 (Mi pjtf6941) 		 
Структура зоны контакта наплавка-подложка, подвергнутой электронно-пучковой обработке

Ю. Ф. Ивановa, В. Е. Громовb, М. О. Ефимовb, Ю. А. Шляроваb, И. А. Панченкоb, С. В. Коноваловb

a Институт сильноточной электроники СО РАН, Томск, Россия
b Сибирский государственный индустриальный университет, Новокузнецк, Россия
PDF полного текста (926 kB)
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2023.06.54813.19410
Аннотация: Методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии выполнен анализ структуры, фазового и элементного состава зоны контакта системы покрытие (высокоэнтропийный сплав FeCrCoNiMn)-подложка (сплав 5083) после электронно-пучковой обработки. Установлено образование многофазной, многоэлементной субмикро- и нанокристаллической структуры. Выявлена структура высокоскоростной ячеистой кристаллизации в контактных слоях, примыкающих к покрытию и подложке, а также обнаружено формирование кристаллов пластинчатой формы в центральной области зоны контакта.
Ключевые слова: зона контакта, высокоэнтропийный сплав, метод проволочно-дугового аддитивного производства, сплав алюминия 5083, импульсный электронный пучок, элементный и фазовый состав, структура.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 20-19-00452
19-19-00183
Формирование образцов системы покрытие (ВЭС)–подложка (сплав 5083) с помощью технологии проволочно-дугового аддитивного производства и исследование структуры зоны контакта методами просвечивающей электронной микроскопии выполнены при финансовой поддержке гранта РНФ (проект № 20-19-00452), облучение системы покрытие−подложка импульсным электронным пучком и исследование структуры облученного слоя методами растровой электронной микроскопии – за счет гранта РНФ № 19-19-00183 (https://rscf.ru/en/project/19-19-00183/).
Поступила в редакцию: 02.11.2022
Исправленный вариант: 10.01.2023
Принята в печать: 11.01.2023
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Ю. Ф. Иванов, В. Е. Громов, М. О. Ефимов, Ю. А. Шлярова, И. А. Панченко, С. В. Коновалов, “Структура зоны контакта наплавка-подложка, подвергнутой электронно-пучковой обработке”, Письма в ЖТФ, 49:6 (2023), 28–31
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{IvaGroEfi23}
\by Ю.~Ф.~Иванов, В.~Е.~Громов, М.~О.~Ефимов, Ю.~А.~Шлярова, И.~А.~Панченко, С.~В.~Коновалов
\paper Структура зоны контакта наплавка-подложка, подвергнутой электронно-пучковой обработке
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2023
\vol 49
\issue 6
\pages 28--31
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf6941}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2023.06.54813.19410}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=50409152}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf6941
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v49/i6/p28
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:17
    PDF полного текста:2
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025