Аннотация:
Исследованы прямые и обратные вольт-амперные характеристики коммерческих выпрямительных диодов на основе барьера Шоттки к 4H-SiC в диапазоне температур 20–370∘С; максимальный ток составлял 10–20 мА, максимальное напряжение 10–100 В. Установлено, что диоды можно считать близкими к идеальным с высотой барьера Шоттки ∼1.5 эВ, при этом прямой ток во всем диапазоне температур, а обратный ток при высоких температурах в значительной степени обусловлены термоэлектронной эмиссией. Верхняя граница диапазона рабочих температур выпрямительных диодов Шоттки на основе 4H-SiC при исследуемых токах и напряжениях примерно соответствует фундаментальной границе, определяемой высотой барьера, и в представленном эксперименте достигает 370∘C.
Ключевые слова:
карбид кремния, выпрямительный диод, барьер Шоттки, высокая температура.
Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации в ходе реализации проекта “Создание опережающего научно-технического задела в области разработки передовых технологий малых газотурбинных, ракетных и комбинированных двигателей сверхлегких ракет-носителей, малых космических аппаратов и беспилотных воздушных судов, обеспечивающих приоритетные позиции российских компаний на формируемых глобальных рынках будущего”, № FZWF-2020-0015.
Поступила в редакцию: 23.07.2020 Исправленный вариант: 27.07.2020 Принята в печать: 27.07.2020
Образец цитирования:
А. М. Стрельчук, А. А. Лебедев, П. В. Булат, “Характеристики выпрямительных диодов Шоттки на основе карбида кремния при повышенных температурах”, Физика и техника полупроводников, 54:12 (2020), 1364–1367; Semiconductors, 54:12 (2020), 1624–1627
\RBibitem{StrLebBul20}
\by А.~М.~Стрельчук, А.~А.~Лебедев, П.~В.~Булат
\paper Характеристики выпрямительных диодов Шоттки на основе карбида кремния при повышенных температурах
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2020
\vol 54
\issue 12
\pages 1364--1367
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5112}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2020.12.50238.9494}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=44368072}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2020
\vol 54
\issue 12
\pages 1624--1627
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782620120374}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts5112
https://www.mathnet.ru/rus/phts/v54/i12/p1364
Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
Shun Li, Ling Xiao, Zhaoyu Qi, Likai Tong, “First-principles computational analysis of the temperature characteristics of SiC electrical properties in next-generation high-performance devices”, Physica B: Condensed Matter, 699 (2025), 416842