Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления
Зависимость люминесцентных свойств упорядоченных групп Ge(Si) наноостровков от параметров ямок на структурированной поверхности подложки “кремний на изоляторе”
Аннотация:
Представлены результаты исследований люминесцентных свойств структур с Ge(Si) наноостровками (квантовыми точками), в которых структурированная поверхность подложки “кремний на изоляторе” служила как для пространственного упорядочения квантовых точек, так и для формирования двумерного фотонного кристалла. Показано, что при определенном выборе параметров структурированной подложки (диаметра отверстий и периода их расположения) наблюдается усиление интенсивности сигнала люминесценции квантовых точек в ближнем инфракрасном диапазоне. Обнаруженный эффект связывается с взаимодействием излучения пространственно упорядоченных квантовых точек с модами фотонного кристалла. Эффект усиления сигнала люминесценции сохраняется вплоть до комнатных температур.
Работа финансировалась из средств гранта РНФ № 21-72-20184.
Поступила в редакцию: 24.07.2021 Исправленный вариант: 02.08.2021 Принята в печать: 02.08.2021
Реферативные базы данных:
Тип публикации:
Статья
Образец цитирования:
Ж. В. Смагина, В. А. Зиновьев, М. В. Степихова, А. В. Перетокин, С. А. Дьяков, Е. Е. Родякина, А. В. Новиков, А. В. Двуреченский, “Зависимость люминесцентных свойств упорядоченных групп Ge(Si) наноостровков от параметров ямок на структурированной поверхности подложки “кремний на изоляторе””, Физика и техника полупроводников, 55:12 (2021), 1210–1215
\RBibitem{SmaZinSte21}
\by Ж.~В.~Смагина, В.~А.~Зиновьев, М.~В.~Степихова, А.~В.~Перетокин, С.~А.~Дьяков, Е.~Е.~Родякина, А.~В.~Новиков, А.~В.~Двуреченский
\paper Зависимость люминесцентных свойств упорядоченных групп Ge(Si) наноостровков от параметров ямок на структурированной поверхности подложки ``кремний на изоляторе''
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2021
\vol 55
\issue 12
\pages 1210--1215
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts4918}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2021.12.51707.9722}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=46667392}
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts4918
https://www.mathnet.ru/rus/phts/v55/i12/p1210
Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
P. A. Yunin, M. N. Drozdov, A. V. Novikov, V. B. Shmagin, E. V. Demidov, A. N. Mikhailov, D. I. Tetelbaum, A. I. Belov, “Complex Diagnostics of Silicon-on-Insulator Layers after Ion Implantation and Annealing”, J. Surf. Investig., 18:3 (2024), 586
P. A. Yunin, M. N. Drozdov, A. V. Novikov, V. B. Shmagin, E. V. Demidov, A. N. Mikhailov, D. I. Tetelbaum, A. I. Belov, “Complex Diagnostics of Silicon-on-Insulator Layers after Ion Implantation and Annealing”, Poverhnostʹ. Rentgenovskie, sinhrotronnye i nejtronnye issledovaniâ, 2024, № 5, 61