|
Физика и техника полупроводников, 1992, том 26, выпуск 10, страницы 1795–1800
(Mi phts4827)
|
|
|
|
Влияние спейсер-слоев на вольт-амперную характеристику туннельно-резонансных диодов
А. С. Игнатьев, В. Э. Каминский, В. Б. Копылов, В. Г. Мокеров, Г. З. Немцев, С. С. Шмелев, В. С. Шубин Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН, Москва
Аннотация:
Изготовлены туннельно-резонансные диоды со спейсер-слоями и слабо легированным буферным слоем. На измеренных при 77 и 300 K ВАХ получены особенности в области отрицательной дифференциальной проводимости. Показано, что эти особенности связаны с протеканием тока по размерно-квантованным уровням в потенциальной яме спейсер-слоя, а не с самовозбуждением. В результате решения самосогласованной системы уравнений Шредингера и Пуассона получены зависимости глубины потенциальной ямы и уровней
энергии в ней от напряжения на диоде и показано, что максимумы тока на ВАХ реализуются при совпадении резонансного уровня с дном зоны проводимости или уровнями размерного квантования.
Поступила в редакцию: 21.04.1992 Принята в печать: 07.05.1992
Образец цитирования:
А. С. Игнатьев, В. Э. Каминский, В. Б. Копылов, В. Г. Мокеров, Г. З. Немцев, С. С. Шмелев, В. С. Шубин, “Влияние спейсер-слоев на вольт-амперную характеристику туннельно-резонансных диодов”, Физика и техника полупроводников, 26:10 (1992), 1795–1800
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts4827 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v26/i10/p1795
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 69 | PDF полного текста: | 45 |
|