|
Физика и техника полупроводников, 1989, том 23, выпуск 8, страницы 1411–1415
(Mi phts3482)
|
|
|
|
Определение электрофизических параметров тонких гетероэпитаксиальных
слоев в растровом электронном микроскопе (теория)
С. Г. Конников, В. А. Соловьев, В. Е. Уманский, В. М. Чистяков
Аннотация:
Теоретически рассмотрен новый метод определения электрофизических
параметров неосновных носителей заряда в режиме тока,
индуцированного электронным зондом, в эпнтаксиальных слоях, толщина которых
меньше величины диффузионной длины носителей. Анализируются возможности
одновременного определения диффузионной длины и скорости интерфейсной
рекомбинации в гетероэпитаксиальных пленках. Показано, что, несмотря на сравнительно сложное теоретическое
описание метода, могут быть выбраны условия измерений, при которых
искомые параметры определяются по экспоненциальной координатной зависимости
сигнала индуцированного тока.
Образец цитирования:
С. Г. Конников, В. А. Соловьев, В. Е. Уманский, В. М. Чистяков, “Определение электрофизических параметров тонких гетероэпитаксиальных
слоев в растровом электронном микроскопе (теория)”, Физика и техника полупроводников, 23:8 (1989), 1411–1415
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts3482 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v23/i8/p1411
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 101 | PDF полного текста: | 34 |
|