Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 1984, том 18, выпуск 10, страницы 1763–1766 (Mi phts1977)  

ЭПР дефектов в SiAl, облученном большими дозами электронов

А. В. Двуреченский, Б. П. Кашников, В. В. Супрунчик
Аннотация: В кремнии, содержащем алюминий в концентрациях 6101751018см3 и облученном электронами с энергией 1 МэВ в интервале доз 1101821020см2, обнаружен новый парамагнитный центр, обозначенный H5. Методом ЭПР проведен анализ структуры центра H5, который показал, что центр имеет спин, равный 1/2, и симметрию \{110\}. Определены главные значения g-тензора и их ориентация относительно кристаллографических осей ${g_{1}=2.0063}$, ${g _{2}=2.0005}$, ${g_{3}= 2.0036(\pm0.0001)}$, θ=13±2, где θ — угол между направлением [110] и $g_{1}$, расположенным вместе с $g_{2}$ в плоскости (110), a ${g_{3}\parallel [1\bar{1}0]}$. Обнаружена сверхтонкая структура, обусловленная взаимодействием неспаренного электрона с двумя неэквивалентными ядрами изотопа 29Si и с ядром 27Аl. Константа сверхтонкого взаимодействия (СТВ) с ядром 27Аl равна (4.0±0.7)104см1. Тензор СТВ с одним из ядер 29Si аксиально симметричен и его главные значения составляют A=41.6104 и A=62.5104см1. Определены плотности волновой функции неспаренного электрона на каждом из атомов 29Si (24, 15% в s-состоянии и 85% в p-состоянии) и на 27Аl (0.3%). На основе анализа полученных результатов предлагается возможная модель, согласно которой центр H5 состоит из дивакансии и междоузельного атома алюминия, находящихся в плоскости \{110\}. Неспаренный электрон расположен на протяженной орбитали дивакансии (около 50% плотности волновой функции).
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. В. Двуреченский, Б. П. Кашников, В. В. Супрунчик, “ЭПР дефектов в SiAl, облученном большими дозами электронов”, Физика и техника полупроводников, 18:10 (1984), 1763–1766
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Dvu84}
\by А.~В.~Двуреченский, Б.~П.~Кашников, В.~В.~Супрунчик
\paper ЭПР дефектов в~Si$\langle$Al$\rangle$, облученном большими дозами
электронов
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 1984
\vol 18
\issue 10
\pages 1763--1766
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts1977}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts1977
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v18/i10/p1763
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:56
    PDF полного текста:21
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025