Loading [MathJax]/jax/output/SVG/config.js
Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Физика и техника полупроводников, 1984, том 18, выпуск 1, страницы 189–191 (Mi phts1587)  
Краткие сообщения

Исследование низкоуровневых нарушений в имплантированных монокристаллах InSb методом характеристического рентгеновского излучения

В. К. Васильев, О. Н. Горшков, Ю. А. Данилов, В. С. Туловчиков

Горьковский исследовательский физико-технический институт
PDF полного текста (492 kB)
Поступила в редакцию: 14.10.1982
Принята в печать: 20.07.1983
Тип публикации: Статья
УДК: 621.315.592
Образец цитирования: В. К. Васильев, О. Н. Горшков, Ю. А. Данилов, В. С. Туловчиков, “Исследование низкоуровневых нарушений в имплантированных монокристаллах InSb методом характеристического рентгеновского излучения”, Физика и техника полупроводников, 18:1 (1984), 189–191
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{VasGorDan84}
\by В.~К.~Васильев, О.~Н.~Горшков, Ю.~А.~Данилов, В.~С.~Туловчиков
\paper Исследование низкоуровневых нарушений в~имплантированных
монокристаллах InSb методом характеристического рентгеновского излучения
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 1984
\vol 18
\issue 1
\pages 189--191
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts1587}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts1587
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v18/i1/p189
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:68
    PDF полного текста:25
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025