Аннотация:
Исследована радиационная стойкость наноструктурированных покрытий TiN, TiAlN, TiAlYN при облучении ионами He+ с энергией 500 keV в диапазоне флюенсов от 5 ⋅ 1016 до 3 ⋅ 1017 ions/cm2. Изучено изменение фазового состава, структуры, параметров кристаллической решeтки, морфологии и механических свойств покрытий под воздействием облучения ионами гелия. Обнаружено отсутствие блистеринга, выявлен факт нелинейного влияния флюенса облучения на прочностные свойства тонких покрытий. Обнаружено значительное уменьшение размеров зерен в покрытиях при ионном облучении, что обусловливает увеличение микротвердости и радиационной стойкости покрытий. Установлено, что наноструктурированные покрытия TiN, TiAlN, TiAlYN являются радиационно-стойкими и не подвержены катастрофической деградации под воздействием высокофлюенсного ионного облучения.
Образец цитирования:
Ф. Ф. Комаров, С. В. Константинов, В. Е. Стрельницкий, В. В. Пилько, “Влияние облучения ионами гелия на структуру, фазовую стабильность и микротвердость наноструктурированных покрытий TiN, TiAlN, TiAlYN”, ЖТФ, 86:5 (2016), 57–63; Tech. Phys., 61:5 (2016), 696–702
Gulnur Akhtanova, Yerassyl Yerlanuly, Hryhorii P. Parkhomenko, Mykhailo V. Solovan, Andrii I. Mostovyi, Aliya K. Nurmukhanbetova, Alexander V. Kireyev, Igor V. Danko, Pavel A. Oreshkin, Timur K. Zholdybayev, Daniyar M. Janseitov, Tlekkabul S. Ramazanov, Viktor V. Brus, “Electron Irradiation-Induced Degradation of TiN Thin Films on Quartz and Sapphire Substrates”, ACS Omega, 9:1 (2024), 925
S. V. Konstantinov, F. F. Komarov, I. V. Chizhov, V. A. Zaikov, “Structural-phase states and micromechanical properties of nanostructured TiAlCuN coatings”, Dokl. Akad. nauk, 67:2 (2023), 101
Fadei F. Komarov, Stanislav V. Konstantinov, Igor V. Chizhov, Valery A. Zaikov, Tatiana I. Zubar, Alex V. Trukhanov, “Nanostructured TiAlCuN and TiAlCuCN coatings for spacecraft: effects of reactive magnetron deposition regimes and compositions”, RSC Adv., 13:27 (2023), 18898
Mykhailo M. Solovan, Andrii I. Mostovyi, Hryhorii P. Parkhomenko, Marat Kaikanov, Nora Schopp, Ernest A. Asare, Taras Kovaliuk, Petr Veřtát, Kostiantyn S. Ulyanytsky, Dmytro V. Korbutyak, Viktor V. Brus, “A High‐Detectivity, Fast‐Response, and Radiation‐Resistant TiN/CdZnTe Heterojunction Photodiode”, Advanced Optical Materials, 11:2 (2023)
S. V. Konstantinov, F. F. Komarov, I. V. Chizhov, V. A. Zaikov, “The structure and micromechanical properties of TiAlSiN, TiAlSiCN coatings formed by the method of reactive magnetron sputtering”, Vescì Akademìì navuk Belarusì. Seryâ fizika-matematyčnyh navuk, 59:3 (2023), 241
Viktor V. Brus, Mykhailo M. Solovan, Nora Schopp, Marat Kaikanov, Andriy I. Mostovyi, “Visible to Near‐Infrared Photodiodes with Advanced Radiation Resistance”, Advcd Theory and Sims, 5:3 (2022)
F. Konusov, S. Pavlov, A. Lauk, A. Kabyshev, V. Novikov, R. Gadirov, V. Tarbokov, G. Remnev, “Effect of short-pulsed ion irradiation on the optical and electrical properties of titanium nitride films deposited by reactive magnetron sputtering”, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 526 (2022), 51
S. V. Konstantinov, F. F. Komarov, V. E. Strel'nitskij, “Radiation tolerance of nanostructured TiCrN coatings”, Dokl. Akad. nauk, 65:4 (2021), 412
S.V. Konstantinov, E. Wendler, F.F. Komarov, V.A. Zaikov, “Radiation tolerance of nanostructured TiAlN coatings under Ar+ ion irradiation”, Surface and Coatings Technology, 386 (2020), 125493
K. K. Kadyrzhanov, D. I. Shlimas, A. L. Kozlovskiy, M. V. Zdorovets, “Research of the shielding effect and radiation resistance of composite CuBi2O4 films as well as their practical applications”, J Mater Sci: Mater Electron, 31:14 (2020), 11729
Г. Д. Ивлев, В. А. Зайков, И. М. Климович, Ф. Ф. Комаров, О. Р. Людчик, “Наносекундное воздействие интенсивного лазерного излучения на тонкие плёнки TiAlN”, Оптика и спектроскопия, 128:1 (2020), 144–150; G. D. Ivlev, V. A. Zaikov, I. M. Klimovich, F. F. Komarov, O. R. Lyudchik, “Nanosecond action of intensive laser radiation on thin TiAlN films”, Optics and Spectroscopy, 128:1 (2020), 141–147