Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 2019, том 89, выпуск 11, страницы 1789–1794
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2019.11.48346.115-19 (Mi jtf5476) 		 
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

XXIII Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Нижний Новгород, 11-14 марта 2019 г.

Ошибки измерений интерферометров с дифракционной волной сравнения

А. А. Ахсахалян, Д. А. Гаврилин, И. В. Малышев, Н. Н. Салащенко, М. Н. Торопов, Б. А. Уласевич, Н. Н. Цыбин, Н. И. Чхало

Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
PDF полного текста (539 kB) Список цитирования (3)
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2019.11.48346.115-19
Аннотация: Описаны экспериментальный стенд и результаты исследований аберраций источников эталонной сферической волны (ИЭСВ) на основе одномодового оптического волокна с субволновой выходной апертурой с использованием оптической части регистрирующей системы (ОЧРС). ИЭСВ и ОЧРС разрабатываются для безэталонного интерферометра с дифракционной волной сравнения. Описаны методики, позволяющие минимизировать ошибки измерений. Разработанные ИЭСВ и ОЧРС обеспечивают субнанометровую точность измерений оптики. Обсуждены возможности повышения точности измерений интерферометра до пикометрового уровня.
Ключевые слова: интерферометрия, аберрация, дифракционная волна сравнения, оптоволокно.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации 075-02-2018-182
Финансирование работы при поддержке Минобрнауки РФ в рамках Соглашения № 075-02-2018-182 (RFMEFI60418X0202).
Поступила в редакцию: 28.03.2019
Исправленный вариант: 28.03.2019
Принята в печать: 15.04.2019
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2019, Volume 64, Issue 11, Pages 1698–1703
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784219110021
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. А. Ахсахалян, Д. А. Гаврилин, И. В. Малышев, Н. Н. Салащенко, М. Н. Торопов, Б. А. Уласевич, Н. Н. Цыбин, Н. И. Чхало, “Ошибки измерений интерферометров с дифракционной волной сравнения”, ЖТФ, 89:11 (2019), 1789–1794; Tech. Phys., 64:11 (2019), 1698–1703
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{AkhGavMal19}
\by А.~А.~Ахсахалян, Д.~А.~Гаврилин, И.~В.~Малышев, Н.~Н.~Салащенко, М.~Н.~Торопов, Б.~А.~Уласевич, Н.~Н.~Цыбин, Н.~И.~Чхало
\paper Ошибки измерений интерферометров с дифракционной волной сравнения
\jour ЖТФ
\yr 2019
\vol 89
\issue 11
\pages 1789--1794
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf5476}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2019.11.48346.115-19}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=41300877}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2019
\vol 64
\issue 11
\pages 1698--1703
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784219110021}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf5476
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v89/i11/p1789
    • Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
    1. M. N. Toropov, A. A. Akhsakhalyan, I. V. Malyshev, M. S. Mikhaylenko, A. E. Pestov, N. N. Salaschenko, A. K. Chernyshov, N. I. Chkhalo, “Wavefront Lens Corrector for Studying Flat Surfaces”, Tech. Phys., 69:3 (2024), 730  crossref
    2. Egor V. Petrakov, Nikolay I. Chkhalo, Alexey K. Chernyshev, Egor I. Glushkov, “Effective filtering of diffraction rings on surface maps of high-precision X-ray mirrors as reconstructed from high-coherence interferometry data”, Opt. Eng., 63:11 (2024)  crossref
    3. М. Н. Торопов, А. А. Ахсахалян, М. В. Зорина, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало, Ю. М. Токунов, “Получение гладких высокоточных поверхностей методом механического притира”, ЖТФ, 90:11 (2020), 1958–1964  mathnet  crossref; M. N. Toropov, A. A. Akhsakhalyan, M. V. Zorina, N. N. Salashchenko, N. I. Chkhalo, Yu. M. Tokunov, “Obtaining of smooth high-precision surfaces by the mechanical lapping method”, Tech. Phys., 65:11 (2020), 1873–1879  mathnet  crossref
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:83
    PDF полного текста:68
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025