Аннотация:
Представлены результаты исследования сглаживающего эффекта тонких пленок Si, примененных в качестве буферных слоев в многослойных зеркалах Be/Al, оптимизированных для работы на длинах волн больше 17.1 nm. Исследованы многослойные зеркала околонормального (угол скольжения 88∘∘) и скользящего падения (угол скольжения 33.5∘∘). Показано, что эффект наблюдался для многослойных зеркал Be/Si/Al с периодами, по крайней мере, до 29 nm. Для зеркал нормального падения, оптимизированных на длину волны 17.14 nm, получен рекордный пиковый коэффициент отражения 62.5% при спектральной селективности λ/Δλλ/Δλ = 59. Исследована временная стабильность данных зеркал.
Работа выполнена в рамках государственного задания № 0035-2014-0204 и при поддержке грантов РФФИ № 18-02-00588, 19-32-90154 с использованием оборудования ЦКП “Физика и технологии микро- и наноструктур” при ИФМ РАН.
Поступила в редакцию: 16.04.2020 Исправленный вариант: 16.04.2020 Принята в печать: 16.04.2020
Образец цитирования:
Р. С. Плешков, С. Ю. Зуев, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, М. В. Свечников, Н. И. Чхало, P. Jonnard, “Сглаживающий эффект Si-слоев в многослойных зеркалах Be/Al для спектрального диапазона 17–31 nm”, ЖТФ, 90:11 (2020), 1870–1875; Tech. Phys., 65:11 (2020), 1786–1791
Aidar U. Gaisin, Elena O. Filatova, “Effect of low-temperature oxidation and heat treatment under vacuum on the Al–Be interdiffusion process”, Phys. Chem. Chem. Phys., 26:2 (2024), 780
Khalil Hassebi, Evgueni Meltchakov, Franck Delmotte, Angelo Giglia, Philippe Jonnard, “Sc/SiC/Al Multilayer Optimization for Li K Spectroscopy”, Applied Sciences, 14:3 (2024), 956
Suet Yi Liu, Yuya Iwamoto, Hiroki Mashiko, Satoshi Ichimaru, Masatoshi Hatayama, Eric M. Gullikson, Tomoya Mizuno, Takayuki Kurihara, Jiro Itatani, Hisataka Takenaka, “Development of a narrowband multilayer mirror for extracting a single order component from high harmonics in the 63–70 eV region”, Appl. Opt., 63:17 (2024), 4522
S. A. Garakhin, A. Yu. Lopatin, A. N. Nechay, A. A. Perekalov, A. E. Pestov, N. N. Salashchenko, N. N. Tsybin, N. I. Chkhalo, “Dispersion Elements for X-ray Mirror Spectrometer on a Range of 7–30 nm”, Tech. Phys., 69:6 (2024), 1568
Ruslan Smertin, Evgeny Antyushin, Ilya Malyshev, Masha Zorina, Nikolai Chkhalo, Pavel Yunin, Sergey Garakhin, Vladimir Polkovnikov, Yuliy Vainer, “Influence of silicon interlayers on the structural and reflective X-ray characteristics of Ni/Ti multilayer mirrors”, J Appl Crystallogr, 57:5 (2024), 1477
Sergey Kuzin, Sergey Bogachev, Andrey Pertsov, Ivan Loboda, Viktor Chervinsky, Nikolay Chkhalo, Alexey Lopatin, Ilya Malyshev, Alexey Pestov, Roman Pleshkov, Vladimir Polkovnikov, Michael Toropov, Nikolay Tsybin, Sergey Zuev, “EUV telescope for a Cubesat nanosatellite”, Appl. Opt., 62:31 (2023), 8462
Vladimir Polkonikov, Nikolai Chkhalo, Roman Pleshkov, Angelo Giglia, Nicolas Rividi, Emmanuelle Brackx, Karine Le Guen, Iyas Ismail, Philippe Jonnard, “Periodic Multilayer for X-ray Spectroscopy in the Li K Range”, Applied Sciences, 11:14 (2021), 6385