|
Журнал технической физики, 1992, том 62, выпуск 4, страницы 108–112
(Mi jtf4629)
|
|
|
|
Оптика, квантовая электроника
Влияние контактных давлений на контраст интерференционных полос
в методе спекл-фотографии
Л. В. Осинцев, Ю. И. Островский, В. П. Щепинов, В. В. Яковлев
Аннотация:
Изменение микрорельефа поверхности между экспозициями
приводит к уменьшению контраста интерференционных полос в методе
спекл-фотографии. Это обстоятельство используется для расширения
возможностей метода спекл-фотографии. Приведены результаты
экспериментальных исследований влияния контактных давлений на контраст
интерференционных полос в методе спекл-фотографии при контакте тел с
разной шероховатостью поверхностей из различных материалов. Полученные
результаты использованы для измерения контактных давлений
в фрагменте болтового соединения.
Образец цитирования:
Л. В. Осинцев, Ю. И. Островский, В. П. Щепинов, В. В. Яковлев, “Влияние контактных давлений на контраст интерференционных полос
в методе спекл-фотографии”, ЖТФ, 62:4 (1992), 108–112
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf4629 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v62/i4/p108
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 55 | PDF полного текста: | 34 |
|