Loading [MathJax]/jax/output/SVG/config.js
Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 1985, том 55, выпуск 11, страницы 2238–2240 (Mi jtf1546)  
Краткие сообщения

Исследование возможности определения глубины проникновения поля зарядового пятна в гиротропный кристалл

Д. А. Ганичев, Н. Н. Петров, Л. Б. Прозоров

Ленинградский политехнический институт им. М. И. Калинина
PDF полного текста (376 kB)
Поступила в редакцию: 17.12.1984
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Д. А. Ганичев, Н. Н. Петров, Л. Б. Прозоров, “Исследование возможности определения глубины проникновения поля зарядового пятна в гиротропный кристалл”, ЖТФ, 55:11 (1985), 2238–2240
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{GanPetPro85}
\by Д.~А.~Ганичев, Н.~Н.~Петров, Л.~Б.~Прозоров
\paper Исследование возможности определения глубины проникновения поля
зарядового пятна в~гиротропный кристалл
\jour ЖТФ
\yr 1985
\vol 55
\issue 11
\pages 2238--2240
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf1546}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf1546
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v55/i11/p2238
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:59
    PDF полного текста:38
     
      Обратная связь:
    math-net2025_03@mi-ras.ru     		 Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025