Доклады Академии наук
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Докл. РАН:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Доклады Академии наук, 1980, том 255, номер 3, страницы 572–577 (Mi dan44065)  
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Рентгенографическое измерение микронапряжений в стеклокристаллических материалах

Е. А. Леви, Р. Я. Ходаковская, Е. А. Победимская, Н. В. Белов

Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
PDF полного текста (820 kB)
Поступило: 09.06.1980
Тип публикации: Статья
УДК: 548.3
Образец цитирования: Е. А. Леви, Р. Я. Ходаковская, Е. А. Победимская, Н. В. Белов, “Рентгенографическое измерение микронапряжений в стеклокристаллических материалах”, Докл. АН СССР, 255:3 (1980), 572–577
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{LevKhoPob80}
\by Е.~А.~Леви, Р.~Я.~Ходаковская, Е.~А.~Победимская, Н.~В.~Белов
\paper Рентгенографическое измерение микронапряжений в стеклокристаллических материалах
\jour Докл. АН СССР
\yr 1980
\vol 255
\issue 3
\pages 572--577
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/dan44065}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/dan44065
  • https://www.mathnet.ru/rus/dan/v255/i3/p572
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:164
    PDF полного текста:72
    Список литературы:2
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025