Loading [MathJax]/jax/output/SVG/config.js
Компьютерные исследования и моделирование
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Компьютерные исследования и моделирование:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Компьютерные исследования и моделирование, 2018, том 10, выпуск 4, страницы 483–494
DOI: https://doi.org/10.20537/2076-7633-2018-10-4-483-494
(Mi crm459)
 

Эта публикация цитируется в 7 научных статьях (всего в 7 статьях)

МОДЕЛИ В ФИЗИКЕ И ТЕХНОЛОГИИ

Моделирование воздействия тепловой обратной связи на тепловые процессы в электронных системах

А. Г. Мадера

ФГУ ФНЦ Научно-исследовательский институт системных исследований РАН, Россия, 117218, г. Москва, Нахимовский просп., д. 36, к.1
Список литературы:
Аннотация: Статья посвящена эффекту тепловой обратной связи, возникающему при функционировании интегральных микросхем и электронных систем, использующих микросхемы. Тепловая обратная связь обусловливается тем, что потребляемая при функционировании микросхемы мощность нагревает ее и, в силу значительной зависимости ее электрических параметров от температуры, между ее электрическими и тепловыми процессами возникает интерактивное взаимодействие. Воздействие тепловой обратной связи приводит к изменению как электрических параметров, так и уровней температуры в микросхемах. Положительная тепловая обратная связь представляет собой нежелательное явление, поскольку является причиной выхода электрических параметров микросхем за пределы допустимых значений, снижения надежности и, в ряде случаев, выгорания. Отрицательная тепловая обратная связь проявляется в стабилизации электрического и теплового режимов при пониженных уровнях температуры. Поэтому при проектировании микросхем и электронных систем с их применением необходимо добиваться реализации отрицательной обратной связи. В настоящей работе предлагается метод моделирования теплового режима электронных систем с учетом воздействия тепловой обратной связи. Метод основан на введении в тепловую модель электронной системы новых модельных схемных элементов, нелинейно зависящих от температуры, количество которых равно количеству микросхем в электронной системе. Такой подход позволяет применять к тепловой модели с введенными в нее новыми схемными элементами матрично-топологические уравнения тепловых процессов и включать их в существующие программные комплексы теплового проектирования. Приведен пример моделирования теплового процесса в реальной электронной системе с учетом воздействия тепловой обратной связи на примере микросхемы, установленной на печатной плате. Показано, что для адекватного моделирования электрических и тепловых процессов микросхем и электронных систем необходимо во избежание ошибок проектирования и создания конкурентоспособных электронных систем учитывать воздействие тепловой обратной связи.
Ключевые слова: электронная система, микросхема, тепловая обратная связь, температура, электрические параметры, тепловая модель, моделирование.
Поступила в редакцию: 17.04.2018
Исправленный вариант: 24.04.2018
Принята в печать: 10.05.2018
Тип публикации: Статья
УДК: 536.24: 621.396
Образец цитирования: А. Г. Мадера, “Моделирование воздействия тепловой обратной связи на тепловые процессы в электронных системах”, Компьютерные исследования и моделирование, 10:4 (2018), 483–494
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Mad18}
\by А.~Г.~Мадера
\paper Моделирование воздействия тепловой обратной связи на тепловые процессы в электронных системах
\jour Компьютерные исследования и моделирование
\yr 2018
\vol 10
\issue 4
\pages 483--494
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/crm459}
\crossref{https://doi.org/10.20537/2076-7633-2018-10-4-483-494}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/crm459
  • https://www.mathnet.ru/rus/crm/v10/i4/p483
  • Эта публикация цитируется в следующих 7 статьяx:
    1. K. Chubur, I. Strukov, Svetlana Evdokimova, Vladimir Belokurov, Aleksey Platonov, Oleg Cherkasov, Konstantin Zolnikov, “Development of mathematical models of physical processes in a heterogeneous multilayer structure under radiation exposure”, Modeling of systems and processes, 15:1 (2022), 125  crossref
    2. Alexander G. Madera, Lecture Notes in Networks and Systems, 232, Software Engineering Application in Informatics, 2021, 712  crossref
    3. А. Г. Мадера, “Кластерный метод математического моделирования интервально-стохастических тепловых процессов в электронных системах”, Компьютерные исследования и моделирование, 12:5 (2020), 1023–1038  mathnet  crossref; A. G. Madera, “Cluster method of mathematical modeling of interval-stochastic thermal processes in electronic systems”, Computer Research and Modeling, 12:5 (2020), e1023–e1038  crossref
    4. A G Madera, “The effect of thermal feedback and statistical technological dispersion of microcircuits parameters on their thermal modes”, IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng., 862:3 (2020), 032106  crossref
    5. А. Г. Мадера, “Иерархический метод математического моделирования стохастических тепловых процессов в сложных электронных системах”, Компьютерные исследования и моделирование, 11:4 (2019), 613–630  mathnet  crossref
    6. Мадера А.Г., “Тепловой режим микросхемы в условиях неопределенности определяющих параметров и воздействии тепловой обратной связи”, Труды НИИСИ РАН, 8:5 (2018), 110  crossref
    7. Воробьев А.А., Кандалов П.И., Мадера А.Г., Сердин О.В., “Принципы охлаждения корпусов моноблоков повышенной мощности потребления с применением тепловых труб”, Труды НИИСИ РАН, 8:5 (2018), 121  crossref
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Компьютерные исследования и моделирование
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:260
    PDF полного текста:135
    Список литературы:41
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025